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Accounting for variability in ion current recordings using a mathematical model of artefacts in voltage-clamp experiments
Autoría
autor: Teun P de Boer, Dominic G Whittaker, Gary R. Mirams, Michael Clerx, Chon Lok Lei, David Gavaghan
Detalles de la obra
Fecha de publicación:
22 de diciembre de 2019
Idioma:
Desconocido
País de origen:
Desconocido
Estado de los derechos de autor
Dominio privado