Charge collection characterisation with the Transient Current Technique of the ams H35DEMO CMOS detector after proton irradiation

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Descripción	artículo científico publicado en 2018
Autoría	autor: Kai-Feng Chen  Sergio Gonzalez-Sevilla  Marzio Nessi
Fecha de publicación	1 de octubre de 2018
Idioma
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