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(Invited) Backside Absorbing Layer Microscopy: A New Tool to Study the Optical, Chemical and Electrochemical Properties of 2D Materials

Autoría

autor: Vincent Derycke, Stéphane Campidelli, Kevin Jaouen

Detalles de la obra

Fecha de publicación: 1 de mayo de 2020
Idioma: Desconocido
País de origen: Desconocido

Estado de los derechos de autor

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