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Ultrafast dynamics of hot charge carriers in an oxide semiconductor probed by femtosecond spectroscopic ellipsometry

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Descripción artículo científico
Autoría

autor: Mateusz Rebarz  Steffen Richter  Stefan Zollner  Joshua Leveillee  Jakob Andreasson  André Schleife  Shirly Espinoza  Marius Grundmann  Oliver Herrfurth  Rüdiger Schmidt-Grund 

Fecha de publicación 25 de agosto de 2020
Idioma
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