Electron hopping rate measurements in ITO junctions: Charge diffusion in a layer-by-layer deposited ruthenium(II)-bis(benzimidazolyl)pyridine-phosphonate–TiO2 film

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Descripción	artículo científico publicado en 2011
Autoría	autor: Simon J Bending  Masa-aki Haga  Frank Marken  Sara Dale
Fecha de publicación	julio 2011
Idioma
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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